1. 오실로스코프의 구성 : (전자회로 블록 관점)
ㅇ 수직부 : 수직 증폭기 (Vertical Amplifier)
- 입력 신호를, 조건화하여 CRT에 표시될 수 있도록 함
- 필요 사항 : 입력 신호 주파수에 도달 가능하도록 충분히 높은 대역폭을 가져야 함
- 제어 요소 : 볼트/디비전(volts per division), 위치(position), 결합(coupling) 제어 기능
ㅇ 수평부 : 시간축 (Time Base)
- 입력 신호가, CRT의 수직 편향부에 적용되는 동안, CRT 빔을 오른쪽으로 편향되도록 함
- 결국, 입력 신호가 시간 함수로 보여지도록 함
- 제어 요소 : 시간/디비전(time-per-division)과 위치(또는 지연) 제어
. 대부분, 시간/디비전 제어는 나노 초에서 수 초 단위까지 광범위한 값을 제공
※ 수직축이 광대역 증폭기를 필요로 하고, 시간축이 몇 나노 초 간격의 사건들도 표시 가능케하여,
- 결국, 오실로스코프가 빠르게 변화하는 전압을 표시할 수 있게됨
ㅇ 트리거 (Trigger)
- 디스플레이가 새로 고쳐질 때 마다, 입력 신호의 동일 지점에서 시작하도록 담당
. 반복적 신호 안정화 및 단발성 신호 캡처
ㅇ 디스플레이 (Display) : (CRT)
- 신호의 진폭 및 시간적 관계를 직관적으로 확인 가능
2. 오실로스코프의 구성 : (역할 관점)
ㅇ 입력부
- 입력 프로브
. 전압 프로브 (1:1 무감쇠 프로브, 10:1 감쇠 프로브, 능동 프로브)
. 전류 프로브 (회로 절단 없이 자속에 의한 전류를 전압으로 변환시켜 측정 함)
- 입력 커플링
. 테스트 회로와 오실로스코프 사이의 결합 방식
.. DC : 직접결합, AC : 교류 결합, 접지 : 신호 입력을 접지 차단
ㅇ 수직부 : 빔의 상하 이동
- 입력 결합부, 신호 감쇠기, 전치증폭기, 지연선, 후치증폭기(CRT 구동)로 구성됨
ㅇ 수평부 : 빔의 좌우 이동
- 톱니파(Sawtooth Wave)를 만들어주는 스위프 발생기/발진기 포함
ㅇ 동기부 : 빔의 시작점 결정 (수직부로부터 신호 입력을 받아 수평 스위프 시작점의 결정)
- 어떤 기준 신호의 일부에 의해 트리거된 트리거 펄스가, 스위프 발진기를 구동시킴
. (트리거 소스의 종류)
. Internal Trigger : 측정 대상 파형이 트리거 소스가 됨
. External Trigger : 외부에서 별도로 트리거 소스를 줌
. Line Trigger : 공급 전원 선에서 트리거 소스를 찾아 냄
- 만일, 입력 파형과 스위프가 동기되지 않으면, 표시 파형이 한쪽편으로 계속 흘러가게됨
- 따라서, 트리거 기능은, 반복적인 파형을 안정화시키고, 일회성 파형을 캡처할 수 있게함
ㅇ 디스플레이 (음극선관 포함, 화면 표시부)
- 계수선/격자선(Graticule) : 화면 상에 측정 기준이되는 눈금선/판
. 통상, 수직 8칸,수평 10 칸 (8 x 10 Division,1 division = 1 ㎝)
. 수직 감도 눈금 : 진폭 측정 (volt/div)
. 수평 감도 눈금 : 주기 측정 (sec/div)