[정보통신기술용어해설] |
ESR, ESL Equivalent Serial Resistance, Equivalent Series Inductance 등가 직렬 저항, 등가 직렬 인덕턴스 | (2024-02-20) |
커패시터 등가회로 |
1. 커패시터의 원치 않는 기생 성분 ㅇ 커패시터를 교류 회로에 적용할 때, 성능에 미세한 영향을 주는 기생 성분들 ㅇ ESR (Equivalent Serial Resistance, 등가 직렬 저항, Rs) : 작을수록 좋음 - 기생 직렬 저항 성분 . 커패시터에서 전극에 의한 저항 성분, 유전체 재료에 의한 유전 손실이 합해져 나타남 - 통상, [mΩ] 단위로 나타냄 ㅇ ESL (Equivalent Series Inductance, 등가 직렬 인덕턴스, Ls) : 작을수록 좋음 - 기생 직렬 인덕턴스 성분 . 커패시터에서 전극 및 단자 길이에 의해 나타남 ㅇ 절연 저항 (Insulation Resistance, Rp) : 클수록 좋음 - 커패시터 자체의 절연 저항 성분 2. 커패시터의 등가회로[# Z = R_s + j\left( ωL_s - \frac{1}{ωC} \right) = R_s + jX \\ \quad |Z| = \sqrt{R^2_s + X^2} #]