1. JTAG (Joint Test Action Group)
ㅇ 1990년 IEEE Std. 1149.1로 표준화된 바운드리스캔 규격
- 바운드리스캔 (Boundary-Scan) : IC 내부 관찰 및 디버깅
ㅇ PCB 내 전자 부품 등에 대한 디버깅, 테스트, 프로그래밍을 위한 표준화된 인터페이스
- 특히, 회로 테스트 및 프로그래밍을 지원하는 표준 인터페이스로 자리 잡음
ㅇ 주요 용도
- 디버깅 및 테스트 : IC 칩 내부 상태를 모니터링하고 제어할 수 있는 기능 제공
. 보드 레벨에서 회로가 정상적으로 동작하는지 확인하는 데 사용
- 프로그래밍 : FPGA,마이크로컨트롤러 같은 프로그래머블 칩을 직접 프로그래밍 가능
- 회로 테스트 : 연결된 모든 장치들을 체인으로 묶어,
. 고장이나 연결 오류를 탐지할 수 있는 Boundary-Scan 테스트 제공
ㅇ JTAG 인터페이스 (신호선 4개)
- TDI(Test Data In), TDO(Test Data Out), TCK(Test Clock), TMS(Test Mode Select)