1. (pn 접합) 내부 전위, 전위 장벽
ㅇ 내부 전위 (Built-in Potential), 접촉 전위차 (Contact Potential)
- 열평형 하의 반도체 접합 (pn 접합) 면에 형성된 공핍층을 가로질러 나타나는 내부 전위차
* 다음과 같이, 캐리어 농도 (도핑 농도)에 대한 의존성 있음
[# V_{bi} = \frac{kT}{q} \ln \frac{N_aN_d}{n_i^2} #]
. Na : p형 반도체 불순물 캐리어 농도, Nd : n형 반도체 불순물 캐리어 농도
. ni : 진성 캐리어 농도
ㅇ 전위 장벽 (Potential Barrier), 내부 전위 장벽 (Built-in Potential Barrier)
- 공간적으로 고정된 도펀트 이온들로부터 발생된 전계로 인한 에너지 장벽
. 내부 전위 차이에 따른 전계 (E = - ∇Vbi)가,
. 이동 전하의 확산을 막는 전위 에너지 장벽 역할을 함
2. (pn 접합) 내부 전위 例
ㅇ 공핍층에서 고정된 도너,억셉터 이온들에 의해 나타나는 내부 전위 Φ
ㅇ 반도체별 내부 전위 차이 例) (25℃에서)
- 실리콘 Si : 약 0.7 [V]
- 게르마늄 Ge : 약 0.3 [V]