511-bit Pseudo Random Test Pattern, 511 Pseudo-Random Sequence   511 시험패턴

(2016-06-08)
1. 511 시험 패턴  

  ㅇ 주로 14.4 kbits/s 까지의 비트 전송률에서 오류 측정으로 개발된,
     의사 난수열(Pseudo Random Sequence)의 일종


2. 511 패턴 발생 방법

  ㅇ 511 패턴은 5번째 단 및 마지막 단이 XOR 되며 9 개 단으로 구성된 시프트 레지스터
     (Shift Register)에서 발생시킬 수 있는 의사 난수열
     - 5 번째와 9 번째 단의 합(XOR)을 다음 패턴의 첫번째 값으로 사용하고 나머지 값
       은 한 칸씩 이동
     - 처음 패턴은 9 개의 연속된 1 로 시작

  


3.  특징시프트 레지스터 수      : 9개
  ㅇ Pseudo-random 순열 길이 : 29 - 1 = 512 - 1 = 511 bits
  ㅇ 다항식                  : x9 + x5 + 1
  ㅇ 0 은 8개까지 만 연이어 나타날 수 있는 순열,
     1 은 9개까지 만 연이어 나타날 수 있는 순열,

  ※ 참조 : ITU-T O.153 (Basic parameters for the measurement of error performance
                         at bit rates below the primary rate)


[디지털 오류/성능] 1. 슬립 2. 제어슬립 3. 511 시험패턴 4. PRBS 5. Code 105 시험 6. 원더 7. 지터 8. 성능 목표치 9. 가상 기준 모델 10. 설계 목표치 11. 루프백 테스트
[비트 오류]
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              1. 슬립
              2. 제어슬립
              3. 511 시험패턴
              4. PRBS
              5. Code 105 시험
              6. 원더
              7. 지터
              8. 성능 목표치
              9. 가상 기준 모델
              10. 설계 목표치
              11. 루프백 테스트
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