1. 현미경
ㅇ 가까운 곳에 있는 작은 물체의 확대되는 상을 얻는 장치
2. 현미경 렌즈
ㅇ 집속 렌즈 (Focusing Lens)
- 현미경 하단 광원으로부터 나온 빛을 집속시켜, 시료를 통과하는 빛 제공
ㅇ 대물 렌즈 (Objective)
- 시료 물체에 가장 가까운 렌즈 (짧은 초점거리)
- 1차 확대상을 제공
ㅇ 접안 렌즈,대안 렌즈 (Eyepiece,Ocular Lens)
- 대물 렌즈가 만든 실상을 보게되는 렌즈로써,
- 최종 배율(확대)을 결정하여, 최종 상을 제공
3. 현미경의 배율 및 분해능
ㅇ 배율
- 확대 배율 : 대물 렌즈 (1~100배), 접안 렌즈 (5~20배)
- 종합 배율 : (대물렌즈 배율) x (접안렌즈 배율) (~2,000배)
ㅇ 분해능
- R ≒ 0.61λ/NA = 0.61λ/(n sinθ)
. 여기서, NA = n sin θ : 개구수 [무차원]
- 결국,
. 파장(λ)이 짧을수록, 렌즈의 크기(NA)가 커질수록, 공간 분해능이 좋아짐
. 통상, 분해능 수치가 작을수록 성능이 좋아지며, 그만큼 기기 가격도 높아짐
4. 현미경의 구분
ㅇ 광학 현미경 (Optical Microscope, Light Microscope, Brightfield Microscope)
- 구성 : 접안렌즈,대물렌즈,시료,반사경,광원
- 배율 : 약 1,000배 정도
- 분해능 : 약 0.1 ㎛ 정도
- 파장 : 약 400~700 μm 정도의 가시광선
- 굴절 : 빛이 렌즈 물질의 굴절률 차이에 의해 굴절시킴
- 종류
. 일반 광학 현미경
. 암시야 현미경 (ultramicroscope),
. 위상차 현미경 (phase-contrast microscope)
. 간섭 현미경 (interference microscope)
. 편광 현미경 (polarized microscope)
ㅇ 전자 현미경 (Electron Microscope)
- 배율 : 약 10,000,000배 정도
. 광학 현미경에 비해 만배에서 100만배 정도 높은 배율도 가능
- 분해능 : 빛 파장 보다 작은 0.05 Å 정도의 분해능도 가능
- 굴절 : 전자기 렌즈의 자기장에 의해 굴절시킴
- 구분
. 투과 전자 현미경 (TEM, Transmission Electron Microscope)
.. 약 200 nm 이하의 두께를 갖는 미세조직을 투과시켜 관찰 가능
. 주사 전자 현미경 (SEM, Scanning Electron Microscope)
.. 시료 덩어리를 원하는 면적을 선택 주사하여 관찰 가능
ㅇ 프로브 현미경 (Probe Microscope)
- 주사 터널링 현미경 (STM, Scanning Tunneling Microscope)
. 분자,원자 크기의 개개의 조작,관찰까지도 가능한 전자 현미경 일종
- 원자간력 현미경 (AFM, Atomic Force Microscope)
. 탐침이 시료 표면으로부터 받는 힘을 측정하여 이를 이용하는 방식
5. 광학 현미경의 관찰법
ㅇ 현미경 관찰이 가능하려면,
- 광선이 투과할 수 있도록,
. 시료를 얇은 절편으로 만들어야 함
- 절편을 만드는 방법으로는,
. 손으로 직접 자르는 방법 : hand section
. 영구표본제작방법 : microtome
.. 파라핀을 침투시키고 굳힌 다음 파라핀과 함께 절단하는 방법