현미경 구분

(2021-02-23)

전자 현미경

1. 현미경의 구분광학 현미경 (Optical Microscope, Light Microscope, Brightfield Microscope)
  ㅇ 전자 현미경 (Electron Microscope)
  ㅇ 프로브 현미경 (Probe Microscope)


2. 광학 현미경 (Optical Microscope, Light Microscope, Brightfield Microscope)

  ㅇ 구성   : 접안렌즈,대물렌즈,시료,반사경,광원배율   : 약 1,000배 정도
  ㅇ 분해능 : 약 0.1 ㎛ 정도
  ㅇ 파장   : 약 400~700 μm 정도의 가시광선굴절   : 렌즈 물질굴절률 차이에 의해 굴절시킴
  ㅇ 종류 
     - 일반 광학 현미경
     - 암시야 현미경 (ultramicroscope), 
     - 위상차 현미경 (phase-contrast microscope) 
     - 간섭 현미경 (interference microscope)
     - 편광 현미경 (polarized microscope)


3. 전자 현미경 (Electron Microscope)배율   : 약 10,000,000배 정도
     - 광학 현미경에 비해 만배에서 100만배 정도 높은 배율도 가능
  ㅇ 분해능 :  파장 보다 작은 0.05  정도의 분해능도 가능
  ㅇ 굴절   : 전자기 렌즈자기장에 의해 굴절시킴
  ㅇ 구분
     - 투과 전자 현미경 (TEM, Transmission Electron Microscope)
        . 약 200 nm 이하의 두께를 갖는 미세 조직을 투과시켜 관찰 가능
        . 광학 현미경 처럼 시야 내 모든 영상을 일시에 얻어냄

     - 주사 전자 현미경 (SEM, Scanning Electron Microscope)
        . 시료 덩어리 중 원하는 면적을 선택 주사하여 관찰 가능
        . 광학 현미경,투과 전자 현미경과는 달리, 관찰 영역을 전자빔이 주사하면서, 영상을 얻어냄
        . 구성 
           .. 광학계 본체 : 전자총,집속렌즈,대물렌즈,편향코일,프로브,전자검출기 등
           .. 모니터 제어계


4. 프로브 현미경 (Probe Microscope), 주사 탐침 현미경 (SPM,Scanning Probe Microscope)

  ㅇ 주사 터널링 현미경 (STM, Scanning Tunneling Microscope)
     - 매우 정밀한 금속 탐침에 의해, 래스터 방식으로 주사됨
     - 관찰할 표면전기(터널링 전류)를 흘려주고, 
       탐침 끝과의 수 나노미터 사이에서 일어나는, 양자역학터널링 원리에 기반함
     - 분자,원자 크기의 개개의 조작,관찰까지도 가능한 전자 현미경 일종

  ㅇ 원자간력 현미경, 원자  현미경 (AFM, Atomic Force Microscope)
     - 탐침이 시료 표면으로부터 받는 측정하여 이를 이용하는 방식


[광학기기] 1. 광학계 2. 확대경 3. 현미경 4. 망원경 5. 거울 6. 렌즈 7. 현미경 구분

 
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