511-bit Pseudo Random Test Pattern, 511 Pseudo-Random Sequence   511 시험패턴

(2016-06-08)

1. 511 시험 패턴  

  ㅇ 주로 14.4 kbits/s 까지의 비트 전송률에서 오류 측정으로 개발된,
     의사 난수열(Pseudo Random Sequence)의 일종


2. 511 패턴 발생 방법

  ㅇ 511 패턴은 5번째 단 및 마지막 단이 XOR 되며 9 개 단으로 구성된 시프트 레지스터
     (Shift Register)에서 발생시킬 수 있는 의사 난수열
     - 5 번째와 9 번째 단의 합(XOR)을 다음 패턴의 첫번째 값으로 사용하고 나머지 값
       은 한 칸씩 이동
     - 처음 패턴은 9 개의 연속된 1 로 시작

  


3.  특징시프트 레지스터 수      : 9개
  ㅇ Pseudo-random 순열 길이 : 29 - 1 = 512 - 1 = 511 bits
  ㅇ 다항식                  : x9 + x5 + 1
  ㅇ 0 은 8개까지 만 연이어 나타날 수 있는 순열,
     1 은 9개까지 만 연이어 나타날 수 있는 순열,

  ※ 참조 : ITU-T O.153 (Basic parameters for the measurement of error performance
                         at bit rates below the primary rate)

회선 시험
   1. 루프백 테스트   2. 511 시험 패턴   3. Code 105 시험  


Copyrightⓒ written by 차재복 (Cha Jae Bok)               기술용어해설 후원
"본 웹사이트 내 모든 저작물은 원출처를 밝히는 한 자유롭게 사용(상업화포함) 가능합니다"